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重慶冷熱沖擊試驗(yàn)箱用于測(cè)試其材料在瞬間下經(jīng)過*溫和極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能承受的程度，藉以在zui短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件，無一不需要它的理想測(cè)試工具.

冷熱沖擊試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn)用來測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫和極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能承受的程度，借以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害，適用的對(duì)象包括金屬、塑膠、橡膠、電子…等材料，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。

冷熱沖擊試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn)用來測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫和極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能承受的程度，借以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害，適用的對(duì)象包括金屬、塑膠、橡膠、電子…等材料，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。

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氣流儀適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊（如收發(fā)器 transceiver 高低溫測(cè)試、SFP 光模塊高低溫測(cè)試等）、電子行業(yè)等進(jìn)行IC 特性分析、高低溫循環(huán)測(cè)試、溫度沖擊測(cè)試、失效分析等可靠性試驗(yàn)。